HAST 가속 스트레스 테스트 챔버

HAST(Highly Accelerated Stress Testing)는 전자 제품의 신뢰성과 수명을 평가하기 위해 고안된 매우 효과적인 테스트 방법입니다. 이 방법은 전자 제품을 매우 짧은 시간 동안 고온, 고습, 고압과 같은 극한 환경 조건에 노출시켜 전자 제품이 장기간에 걸쳐 경험할 수 있는 응력을 시뮬레이션합니다. 이러한 테스트를 통해 발생할 수 있는 결함과 약점의 발견을 가속화할 뿐만 아니라 제품이 배송되기 전에 잠재적인 문제를 식별하고 해결하는 데 도움이 되므로 제품의 전반적인 품질과 사용자 만족도가 향상됩니다.

테스트 대상: 문제를 자극하기 위해 고도로 가속된 스트레스를 적용하는 칩, 마더보드, 휴대폰 및 태블릿.

1. 수입 고온 내성 솔레노이드 밸브 이중 채널 구조를 최대한 채택하여 고장률 사용을 줄입니다.

2. 독립된 증기발생실로 증기가 제품에 직접적인 영향을 주지 않도록 하여 제품에 국부적인 손상을 주지 않습니다.

3. 도어 잠금 장치 절약 구조로 1세대 제품의 디스크형 핸들 잠금 어려운 단점을 해결했습니다.

4. 시험 전에 찬 공기를 배출하십시오. 압력 안정성, 재현성을 향상시키기 위해 배기 냉기 설계(테스트 배럴 공기 배출) 테스트를 수행합니다.

5. 매우 긴 실험 실행 시간, 999시간 동안 실행되는 긴 실험 기계.

6. 테스트 챔버 수위 센서 감지 보호를 통해 수위 보호.

7. 물 공급: 자동 물 공급, 장비에는 물 탱크가 함께 제공되며 수원이 오염되지 않도록 노출되지 않습니다.