HAST 가속 스트레스 테스트 챔버

초가속 스트레스 테스트(HAST)는 전자 제품의 신뢰성과 수명을 평가하기 위해 고안된 매우 효과적인 테스트 방법입니다. 이 테스트는 전자 제품이 장기간에 걸쳐 겪을 수 있는 스트레스를 극한의 환경 조건(고온, 고습, 고압)에 매우 짧은 시간 동안 노출시켜 시뮬레이션합니다. 이 테스트는 잠재적인 결함과 약점을 신속하게 발견할 뿐만 아니라, 제품 출시 전에 잠재적인 문제를 파악하고 해결하여 제품의 전반적인 품질과 사용자 만족도를 향상시킵니다.

테스트 대상: 칩, 마더보드, 휴대전화 및 태블릿에 가속된 스트레스를 가해 문제를 자극합니다.

1. 수입 고온용 솔레노이드 밸브 듀얼 채널 구조를 채택하여 사용 고장률을 최대한 줄였습니다.

2. 독립적인 증기 발생실을 통해 증기가 제품에 직접 영향을 미치지 않아 제품에 국부적인 손상을 일으키지 않습니다.

3. 도어 잠금장치 절약 구조로 1세대 제품의 디스크형 핸들 잠금이 어려웠던 단점을 해결하였습니다.

4. 시험 전에 냉기를 배출합니다. 시험 중 냉기를 배출하는 설계(시험통 공기 배출)를 통해 압력 안정성과 재현성을 향상시킵니다.

5. 매우 긴 실험 실행 시간, 긴 실험 기계는 999시간 동안 실행됩니다.

6. 수위 보호, 시험실 수위 센서 감지 보호를 통해.

7. 급수: 자동 급수, 장비에는 물탱크가 함께 제공되며, 노출되지 않아 수원이 오염되지 않도록 보장합니다.